德國 Avenir Photonics —— Aris 高性能微型紫外/可見光譜儀

產(chǎn)品簡介

德國 Avenir Photonics Aris spectrometer 是一款緊湊型 USB 光譜儀，適用于紫外、可見光及近紅外波段的光譜檢測應(yīng)用。該產(chǎn)品可用于發(fā)射光譜、吸收光譜、透過率、反射率及散射光譜等測量場景，適合實(shí)驗(yàn)室研究、便攜式檢測設(shè)備、工業(yè)在線檢測系統(tǒng)以及 OEM 光譜模塊集成。

Aris 采用小型化結(jié)構(gòu)設(shè)計，可通過光纖與不同采樣附件連接，便于根據(jù)實(shí)際應(yīng)用搭建不同類型的光譜檢測系統(tǒng)。根據(jù)測試需求，可選擇不同波長范圍、入射狹縫及采樣光學(xué)配置，以滿足光源檢測、材料分析、過程監(jiān)測等應(yīng)用需求。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 小型化結(jié)構(gòu)，便于系統(tǒng)集成

Aris 體積緊湊，適合用于實(shí)驗(yàn)室桌面測試、便攜式檢測設(shè)備以及工業(yè)系統(tǒng)集成。對于需要將光譜檢測模塊嵌入到整機(jī)設(shè)備中的 OEM 用戶，該產(chǎn)品可作為光譜采集核心模塊使用。

2. 覆蓋紫外、可見光及近紅外波段

Aris 可根據(jù)應(yīng)用需求配置不同波長范圍，適用于 UV、VIS 和 NIR 區(qū)域的光譜檢測。用戶可根據(jù)光源類型、樣品特性和檢測目標(biāo)選擇合適的光譜范圍。

3. 適用于多種光譜測量方式

該產(chǎn)品可用于發(fā)射、吸收、透射、反射和散射等多種光譜測量方式，能夠滿足光源檢測、材料光學(xué)性能測試、液體吸收分析、薄膜透過率測量等應(yīng)用需求。

4. 支持光纖耦合與多種采樣附件

ARIS 可通過 SMA 光纖接口連接不同類型的光纖、準(zhǔn)直器、余弦校正器等附件，便于構(gòu)建反射、透射、輻照度和光源光譜檢測系統(tǒng)。

5. 適合便攜式與工業(yè)應(yīng)用

Aris 不僅可用于實(shí)驗(yàn)室光譜測試，也適合應(yīng)用于便攜式光譜設(shè)備、自動化檢測平臺和工業(yè)在線監(jiān)測系統(tǒng)。

技術(shù)參數(shù)

典型應(yīng)用

• LED、激光、紫外燈、照明光源的光譜檢測

• 光源峰值波長、光譜分布和穩(wěn)定性測試

• 濾光片、光學(xué)薄膜、玻璃等材料的透過率測量

• 涂層、塑料、金屬表面及其他材料的反射率測量

• 液體樣品、染料、溶液的吸收光譜分析

• 材料顏色、表面狀態(tài)和光學(xué)響應(yīng)檢測

• 工業(yè)生產(chǎn)過程中的在線光譜監(jiān)測

• 便攜式光譜檢測設(shè)備開發(fā)

• OEM 光譜模塊集成

• 高校、科研院所及實(shí)驗(yàn)室光譜測試平臺搭建

可搭配附件

根據(jù)不同應(yīng)用需求，ARIS 可搭配多種光學(xué)附件使用，例如：

• 光纖跳線

• SMA 準(zhǔn)直器

• 直連式準(zhǔn)直器

• 余弦校正器

• 不同寬度入射狹縫

• 反射/透射測量附件

• 光源模塊

• 定制化采樣光學(xué)組件

不同附件可用于構(gòu)建發(fā)射光譜、透過率、反射率、輻照度和吸收光譜等測試系統(tǒng)。